[筆記] 節錄-CP與FT可以使用相同測試機台

此外，在 IC的製程中，晶片測試(CP)與最終測試(FT)只需要更換不同的測試配件，便可以共用相同的測試機台，例如FT用分類機、CP用針測機。
－－淺談「證照管理功能」因應客戶稽核與品質認證的效益-以封測業為例


半導體製程中，針測製程只要換上不同的測試配件，便可與測試製程共用相同的測試機台（Tester）。一般測試廠為了提高測試機台的使用率，除了提供最終測試的服務外，亦接受晶片測試的訂單。
－－第二十三章　半導體製造概論


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「你剛剛說到，同樣的機台，用來測CP會比用來測FT來得慢，是嗎？」
「測試機台不能直接接觸 IC，必須透過一個介面。這個介面在 CP 是 Probe Card，在 FT 則是 Load Board。為什麼同樣的機台在 CP 會測得比較慢呢？因為Probe Card。目前 Probe Card 的設計(製造)還無法跟上我們要的速度，太快了它會劃出亂七八糟、髒兮兮的圖。......」
－－[工餘速記] 廠內演講